5000系统

Beam Diagnostic Instrumentation System 5000基于Hahn-Meitner-Institute开发,为用户提供完整的束流诊断仪器系列,包括机械和相关电子设备。

5100系统

束流轮廓监测系统5100用于测量中低能粒子加速器(例如质谱仪,同位素分离器和Van de Graaff加速器)中的离子束或电子束的强度、分布和位置数据。

5200系统

束流诊断仪器5200系统用于涵盖基于同步加速器的粒子治疗加速器系统所需的粒子束诊断监测和控制,对精度、质量和可靠性有非常高的要求。该系统还可以用于其他类型的高能离子加速器。

光束诊断组件


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